COB双站测试装置
授权
摘要
一种COB双站测试装置，包括：移动结构、压制结构、第一测试结构和第二测试结构，移动结构将COB材料移动到第一检测位置，压制结构将所述COB材料的一部分区域遮挡，COB材料的未被遮挡部分被点亮，第一测试结构测试所述COB材料未被遮挡的区域；测试完成后，移动结构将所述COB材料移动到第二检测位置，压制结构将所述COB材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡，COB材料的未被遮挡的部分被点亮，第二测试结构测试所述COB材料未被遮挡的区域。本实用新型通过两次测试，从而完成对整个COB材料的测试，具有不需要平凡清理玻璃片、不会出现误判和不会影响COB材料的筛选。
基本信息
专利标题 ：
COB双站测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922462055.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN211627351U
授权日 ：
2020-10-02
发明人 ：
段雄斌熊亚俊席松涛
申请人 ：
深圳市标谱半导体科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道茶西三围第二工业区B区9、10楼
代理机构 ：
深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
胡清方
优先权 ：
CN201922462055.5
主分类号 ：
G01N21/25
IPC分类号 ：
G01N21/25 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
法律状态
2020-10-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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