本实用新型公开了一种双排探针测试结构，包括母座和测试探针组，母座包括底板和设置在底板上母座连接器，母座连接器包括第一连接区和第二连接区，第一连接区和第二连接区与底板的第一板面距离不同，测试探针组包括第一探针和第二探针，属于同一组测试探针组的第一探针和第二探针并联连接，第一探针与第一连接区可接触连接，第二探针与第二连接区可接触连接。不同高度设计的第一连接区和第二连接区就给了第一探针和第二探针在接触时更多的定位误差余量，提高测试效率。同时，本申请还提供一种光学摄像头模组测试工站。