本实用新型公开了一种光学模组的测试装置，包括：基座、载物支座和盖板，基座的支撑面上具有透光孔，载物支座设置于支撑面上，且在第一位置和第二位置之间可转动地与基座相连，载物支座的工作面上具有用于容纳光学模组的容纳槽，工作面用于在第二位置时靠近支撑面且使容纳槽与透光孔相对，用于在第一位置时远离支撑面，盖板具有透光结构，在盖合状态盖板罩设在载物支座的工作面上。其中，在盖板处于盖合状态且载物支座处于第二位置时，盖板的透光结构与容纳槽对应。这样，通过使用盖板对设在容纳槽内的光学模组进行限位，让光学模组在进行翻转时产生的位置错动降低，使测试装置在进行光学模组的测量时，测试装置的测量精度变得更高。