光学传感器测试设备压紧模组
授权
摘要
本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种光学传感器测试设备压紧模组，包括压紧底板、两块压紧支撑板、两组压紧滑轨、两块滑板、压板组件，两块压紧支撑板分别开设有导引槽、压紧动力机构，两块滑板分别沿倾斜方向开设有斜孔，两块滑板与相应一侧的压紧支撑板之间分别连接有导轴，各根导轴的一端滚压于导引槽中，各根导轴的另一端穿过斜孔插接于压板组件中，两块滑板均与压紧动力机构的输出端连接；本实用新型能够快速、精准地将被测器件连接器插接于探针模组上，不仅能够降低人工成本，而且能够提高测试的效率、提升测试的稳定性。
基本信息
专利标题 ：
光学传感器测试设备压紧模组
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020415575.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-27
授权号 ：
CN212410718U
授权日 ：
2021-01-26
发明人 ：
曾石根劳家骅曹祥
申请人 ：
深圳市微特自动化设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道上村莲塘工业城C区21栋一楼
代理机构 ：
东莞市十方专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
罗伟平
优先权 ：
CN202020415575.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-01-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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