一种光学测试设备
授权
摘要
本申请提供了一种光学测试设备，包括柜体；设于柜体上的支撑台和支撑架；设于支撑台上的并用于定位待测产品的治具；设于支撑架上的并能切换不同测试模组的测试装置；设于柜体内的并用于提供不同背光的背光源调节组件；以及，设于柜体内的且分别与待测产品、测试装置和背光源调节组件电连接的控制装置，治具、测试装置和背光源调节组件在待测产品的光轴线方向上间隔设置。待测产品的多种性能测试通过测试装置和背光源调节组件实现，测试过程中无需对待测产品进行转移，从而提高了测试效率，而且，多个测试模组设置在同一柜体内，这样节约了如柜体、治具等测试共用结构，具有节约成本和占用空间小的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种光学测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022223858.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-30
授权号 ：
CN213091136U
授权日 ：
2021-04-30
发明人 ：
张成安罗乐华黄宇柱刘畅黄源浩肖振中
申请人 ：
奥比中光科技集团股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
代理机构 ：
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
李金伟
优先权 ：
CN202022223858.8
主分类号 ：
G01M11/04
IPC分类号 ：
G01M11/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/04
••其光学实验台
法律状态
2021-04-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
