光学测试装置
授权
摘要
本申请实施例提供一种光学测试装置，包括支架、第一调节机构和第二调节机构；支架包括立板和横板，立板上设置有第一导轨机构，第一调节机构与第一导轨机构固定连接，第一导轨机构用于带动第一调节机构在竖直方向上运动，其中，第一调节机构用于放置电子检测仪器；横板上设置有第二导轨机构，第二调节机构与第二导轨机构固定连接，第二导轨机构用于带动第二调节机构在水平方向上运动，其中，第二调节机构用于放置待测试设备，第一调节机构和第二调节机构用于调节电子检测仪器与待测试设备之间的相对位置。本申请实施例通过第一调节机构、第二调节机构、第一导轨机构和第二导轨机构，能够精确调节电子检测仪器与待测试设备之间的相对位置。
基本信息
专利标题 ：
光学测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122841135.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-18
授权号 ：
CN216247126U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
张跃兴
申请人 ：
深圳市TCL高新技术开发有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽留仙洞中山园路1001号TCL科学园区研发楼D4栋8层B1单位802-1号房
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄舒悦
优先权 ：
CN202122841135.9
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G01M11/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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