光学测试系统

授权

摘要

本实用新型提供一种光学测试系统，包括激光器、电源、光路调节结构、样品承载结构、第一聚焦透镜、分光器及处理器，样品承载结构包括样品室和样品台，样品台设置于样品室中，样品台用于承载样品，光路调节结构、样品承载结构依次设置于激光器的出射光路上，电源与样品电性连接，第一聚焦透镜、分光器、处理器依次设置于样品的激发光的出射光路上，分光器位于第一聚焦透镜的后焦平面。激光器、光路调节结构、样品承载结构、第一聚焦透镜、分光器及处理器用于对样品进行光致发光测试；电源、样品承载结构、第一聚焦透镜、分光器及处理器用于对样品进行电致发光测试，从而能够同时对样品进行光致发光测试和电致发光测试，提升了测试效率。

基本信息

专利标题：

光学测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921786506.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-23

授权号：

CN210834097U

授权日：

2020-06-23

发明人：

吴栋颖杨文献赵宇坤李雪飞陆书龙

申请人：

中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

申请人地址：

江苏省苏州市苏州工业园区若水路398号

代理机构：

深圳市铭粤知识产权代理有限公司

代理人：

孙伟峰

优先权：

CN201921786506.4

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02