一种光学测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种光学测试系统，包括位于同一直线上依次设置的光源组件、第一测试支架以及光接收器，所述光源组件包括光源座、发光体以及风机，所述光源座凹陷有收容腔，所述发光体位于所述收容腔内，所述风机的风嘴朝向所述收容腔对所述发光体进行散热，所述第一测试支架可以相对于所述光源组件移动，使所述第一测试支架上的反光杯自由进出所述收容腔。当需要测试不同的反光杯时，拉出所述第一测试支架，将先前的反光杯取下，再装上新的反光杯，然后再推动所述第一测试支架将更换后的反光杯推进所述收容腔内，不需要熄灭所述发光体，快捷方便，操作安全简单。
基本信息
专利标题 ：
一种光学测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920998745.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-29
授权号 ：
CN210089983U
授权日 ：
2020-02-18
发明人 ：
蒋伟楷其他发明人请求不公开姓名
申请人 ：
广州市浩洋电子股份有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市番禺区石碁镇海涌路109号（厂房）
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920998745.X
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-02-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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