一种光学模组测试系统及方法
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摘要

本发明公开了一种光学模组测试系统及方法,包括入射光准直模组、测试平台、接收光准直模组、采集装置以及处理器终端;处理器终端,用于控制入射光准直模组和接收光准直模组进行方向调节,使入射光准直模组发射的光束在经过放置于测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入接收光准直模组,并控制接收光准直模组依次移动至与待测光学模组中每个滤光片的分别对应的位置处,以使接收光准直模组依次接收经过相应的滤光片传输的光束;采集装置,用于采集接收光准直模组接收到的光信号,得到与每个滤光片一一对应的光学信息;处理器终端,还用于依据各个光学信息得到与待测光学模组对应的测试结果,本发明能够实现对多滤光片光学模组的测试。

基本信息
专利标题 :
一种光学模组测试系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110108449A
申请号 :
CN201910561241.6
公开(公告)日 :
2019-08-09
申请日 :
2019-06-26
授权号 :
CN110108449B
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
黄军汪洋李文周慧檀立法
申请人 :
深圳市楠轩光电科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区平湖街新木社区新木大道6号F栋1楼101
代理机构 :
深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王仲凯
优先权 :
CN201910561241.6
主分类号 :
G01M11/00
IPC分类号 :
G01M11/00  G01M11/04  
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试;其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-05-10 :
授权
2019-09-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/00
申请日 : 20190626
2019-08-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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