无接触光学测试接口
公开
摘要
本申请公开了一种无接触光学测试接口。测试设备的连接接口包括光学测试套管，该光学测试套管被构造成产生在测试路径(例如，光学光纤或光学波导)与由要测试的光学连接器的标准套管连接接口端接的光纤之间的有意的气隙。一些类型的测试套管具有带有非标准角度的端面，其干涉与标准套管连接接口的接触匹配。其他类型的测试套管具有带有一个或多个突起的端面，其干涉与标准套管连接接口的接触匹配。
基本信息
专利标题 ：
无接触光学测试接口
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114488412A
申请号 ：
CN202011265229.X
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-11-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
P·施奈德张晓东冷宗圣J·布拉瑟
申请人 ：
康普技术有限责任公司
申请人地址 ：
美国北卡罗来纳州
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
於菪珉
优先权 ：
CN202011265229.X
主分类号 ：
G02B6/38
IPC分类号 ：
G02B6/38
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B6/00
光导；包含光导和其他光学元件的装置的结构零部件
G02B6/24
光波导的耦合
G02B6/36
机械连接装置
G02B6/38
有纤维对纤维的匹配装置
法律状态
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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