接触测试装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
一种接触测试装置,包含一位于一测试基板上方的绝缘板,及一设于该绝缘板上的连接单元,该连接单元具有至少一具挠性的连接软片,及多个间隔排列并贴设于该连接软片上且与该测试基板形成电连接的金属接线。该连接软片的中央部分是穿伸过该绝缘板,其两侧部分则弯曲成型且分别位于该绝缘板上方与下方。本实用新型只需将一待测物置放于该连接软片上方,并借由贴设于该连接软片上的金属接线,而与该测试基板形成电连接,就可进行电性测试,由于金属接线的材料使用量相当少,所以可达到有效降低制作成本的目的。
基本信息
专利标题 :
接触测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620149734.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-11-13
授权号 :
CN200976012Y
授权日 :
2007-11-14
发明人 :
吴俊贤
申请人 :
环球联通科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾高雄市
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
程伟
优先权 :
CN200620149734.7
主分类号 :
G01R1/02
IPC分类号 :
G01R1/02 G01R1/067 G01R1/073 G01R31/28 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2010-01-13 :
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2007-11-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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