一种适用多种类型仪控卡件疲劳测试系统
授权
摘要
本发明涉及卡件疲劳测试技术领域，具体公开了一种适用多种类型仪控卡件疲劳测试系统。该系统包括内箱体，在所述内箱体的内部底端设有电路板，所述的电路板的上端一侧固定连接有采集控制装置和数字信号采集装置，所述的电路板上端另一侧固定连接有模拟信号输出板和卡件适配装置，所述的采集控制装置、数字信号采集装置、模拟信号输出板和卡件适配装置均与电路板电连接；在所述的电路板上端中间位置处设有若干个插槽，插槽外侧固定连接有显色框，所述的显色框可指示插槽中是否插入正确的卡件。本发明实现卡件疲劳测试过程自动化测试，远程操作，提高操作人员的工作效率；同时，试验体积小，简单方法，可满足不同场所多种现场环境试验操作。
基本信息
专利标题 ：
一种适用多种类型仪控卡件疲劳测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922464502.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN211742665U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
康澄杰秦凤钱玉刚朱桂霞周田蜜蓝剑
申请人 ：
中核武汉核电运行技术股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区民族大道1021号
代理机构 ：
核工业专利中心
代理人 ：
李东斌
优先权 ：
CN201922464502.0
主分类号 ：
G21C17/00
IPC分类号 ：
G21C17/00 G21C17/10 G21C17/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G21
核物理；核工程
G21C
核反应堆
G21C17/00
监视；测试
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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