一种卡件的测试系统
授权
摘要
本申请实施例公开了一种卡件的测试系统，所述卡件为电流输入型卡件，所述系统包括待测的主卡和副卡；其中所述系统还包括：触发器，输出触发信号，其中所述触发信号用于选择主卡和副卡中的一个为待测卡，另一卡为运行卡；存储器，存储卡件的测试程序；处理器，与所述触发器和所述存储器相连，在接收到触发器的触发信号后，将所述测试数据发送给运行卡；所述运行卡，输出所述测试数据至所述待测卡；所述处理器，接收所述待测卡对所述测试数据反馈的处理结果。
基本信息
专利标题 ：
一种卡件的测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122635149.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-29
授权号 ：
CN216526154U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
杜百万梁乐颖薛明镇袁亚非刘婧天丁娟陈子龙李娜王嘉育
申请人 ：
国能智深控制技术有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区未来科学城英才北二街9号307号楼7716室
代理机构 ：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 ：
张建秀
优先权 ：
CN202122635149.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/54 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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