一种透过率测试仪的多用型定位装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种透过率测试仪技术领域，具体涉及一种透过率测试仪的多用型定位装置，其包括底座、设于底座上的测量平台、设于底座上的测量本体和设于测量本体上用于向测量平台发射测量光束的光束发射头，所述测量平台靠近光束发射头的一侧设有沿Y轴方向运动的第一定位片，所述第一定位片上设有用于与测量平台螺纹连接的第一定位螺栓，所述测量平台平行Y轴方向的一侧设有沿X轴方向运动的第二定位片，所述第二定位片上设有用于与测量平台螺纹连接的第二定位螺栓。本实用新型的透过率测试仪的多用型定位装置，可对不同规格的产品进行测试，减少购买仪器的成本。
基本信息
专利标题 ：
一种透过率测试仪的多用型定位装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922497522.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN211576523U
授权日 ：
2020-09-25
发明人 ：
吴明高
申请人 ：
深圳市泰源兴光电科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区沙井街道衙边社区北环大道南木盆岗工业区2#厂房
代理机构 ：
深圳市深可信专利代理有限公司
代理人 ：
刘昌刚
优先权 ：
CN201922497522.8
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01M11/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-09-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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