经由原子力显微镜进行纳米级动态力学分析(AFM-NDMA...
授权
摘要
一种基于原子力显微镜的设备和方法包括硬件和软件，其被配置为以动态方式收集并分析表示软材料在纳米级上的力学性质的数据，以绘制软材料样品的粘弹性性质。使用该设备作为现有原子力显微镜装置的补充。
基本信息
专利标题 ：
经由原子力显微镜进行纳米级动态力学分析(AFM-NDMA)
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112585479A
申请号 ：
CN201980052345.2
公开（公告）日 ：
2021-03-30
申请日 ：
2019-08-02
授权号 ：
CN112585479B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
谢尔盖·奥斯钦斯基安东尼奥斯·鲁伊特B·皮腾杰赛义德-阿西夫·赛义德-阿玛努拉
申请人 ：
布鲁克纳米公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 ：
陆建萍
优先权 ：
CN201980052345.2
主分类号 ：
G01Q10/06
IPC分类号 ：
G01Q10/06 G01N3/08 G01N3/32 G01Q60/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01Q
扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术
G01Q10/00
扫描或定位设备，即主动控制探针的运动或位置的设备
G01Q10/04
细扫描或定位
G01Q10/06
电路或其算法
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2021-08-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01Q 10/06
申请日 : 20190802
申请日 : 20190802
2021-03-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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