透射成像检测装置及应用其的计算机层析成像系统
授权
摘要
一种透射成像检测装置(10)用于对传送带(100)上的被测对象(200)进行投影图采集，包括X射线投影图成像装置和激光遮挡传感装置，所述被测对象(200)在所述传送带(100)上平移穿过所述X射线投影图成像装置和激光遮挡传感装置，所述激光遮挡传感装置判断所述被测对象(200)进入检测区域，所述X射线投影图成像装置对进入检测区域的被测对象(200)进行投影图数据采集。该透射成像检测装置(10)结合被测对象(200)的平移运动，即可完成CT切片图实时成像所需的数据采集。应用上述透射成像检测装置(10)的计算机层析成像系统通过总线数据传输和集群运算最终实现CT切片图的实时重建、存储和显示。
基本信息
专利标题 ：
透射成像检测装置及应用其的计算机层析成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201990000337.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-19
授权号 ：
CN213121682U
授权日 ：
2021-05-04
发明人 ：
方正
申请人 ：
方正
申请人地址 ：
福建省厦门市翔安区新店镇浦园一里明发半岛祥湾19号501室
代理机构 ：
厦门原创专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐东峰
优先权 ：
CN201990000337.9
主分类号 ：
G01N23/046
IPC分类号 ：
G01N23/046
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术，如计算机X光断层技术
法律状态
2021-05-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
