本发明涉及一种评估聚合物基自修复膜自修复能力的方法，是将聚合物基自修复膜进行制样—刻蚀—自修复—测量过程，当测量结果不合规时，即当裂纹形貌目视存在明显裂纹或者D大于阈值K时，则重新进行制样—刻蚀—自修复—测量的过程，且刻蚀的特定裂纹结构为上一次刻蚀中的自修复能力下一等级对应的结构；当测量结果合规时，即当裂纹形貌目视无明显裂纹且D小于等于阈值K时，则聚合物基自修复膜的自修复能力等级为该次刻蚀中的特定裂纹结构所对应的等级；特定裂纹结构由具有相同间距的裂纹构成，每个裂纹的尺寸用直径和深度或者宽度和深度表示；自修复能力等级分为优、良、中、差四个等级。