IGBT过流检测电路及芯片和电子设备
授权
摘要
本发明适用于电路技术领域，提供了一种IGBT过流检测电路及芯片和电子设备，其中，上述IGBT过流检测电路包括：控制器、限流电阻、开关器件、驱动电阻和分压电阻。限流电阻连接在控制器的IGBT驱动信号输出端与开关器件第一端之间，开关器件第一端还与控制器的IGBT过流检测信号输入端连接；开关器件第二端通过分压电阻后作为IGBT过流检测电路的检测端，用于与待检测的IGBT集电极相接。本发明实施例提供的IGBT过流检测电路及芯片和电子设备可用于RB‑IGBT的过流保护，解决了现有技术中传统IGBT短路保护电路不适用于RB‑IGBT过流保护的问题。
基本信息
专利标题 ：
IGBT过流检测电路及芯片和电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111257716A
申请号 ：
CN202010113334.5
公开（公告）日 ：
2020-06-09
申请日 ：
2020-02-24
授权号 ：
CN111257716B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
陈坤裕李育刚曾奕彰应秋菊
申请人 ：
漳州科华技术有限责任公司;科华恒盛股份有限公司
申请人地址 ：
福建省漳州市金峰工业区北斗工业园
代理机构 ：
石家庄国为知识产权事务所
代理人 ：
付晓娣
优先权 ：
CN202010113334.5
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 H02H7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2020-07-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20200224
申请日 : 20200224
2020-06-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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