一种适用于薄膜天线在真空环境下的模态测试系统
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摘要

一种适用于薄膜天线在真空环境下的模态测试系统,由薄膜天线框架结构、阶跃激励装置、直流稳压电源及控制电路、扫描式激光测振仪、单点式激光测振仪、真空环境模拟器、数据采集与分析系统组成。薄膜天线框架结构将薄膜天线固定于外框架上,并通过调节螺栓的调力方式将不同的面内预应力导入到薄膜天线中。阶跃激励装置由不同型号和不同数量的电磁铁激励器组成,并由直流稳压电源及控制电路提供可调节的周期性阶跃激励信号,用于激励薄膜天线产生相应的模态振型。扫描式激光测振仪和单点式激光测振仪安装于真空环境模拟器外,发射的激光束穿过真空环境模拟器上的光学玻璃观察窗后,最终落到薄膜天线上。数据采集与分析系统通过对两台激光测振仪的返回信号进行采集和数据分析,最终得到薄膜天线的各阶模态频率和振型。

基本信息
专利标题 :
一种适用于薄膜天线在真空环境下的模态测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111323111A
申请号 :
CN202010167046.8
公开(公告)日 :
2020-06-23
申请日 :
2020-03-11
授权号 :
CN111323111B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
罗婕檀傈锰从强邱慧黎彪李潇许哲王浩威
申请人 :
北京空间飞行器总体设计部
申请人地址 :
北京市海淀区友谊路104号
代理机构 :
中国航天科技专利中心
代理人 :
马全亮
优先权 :
CN202010167046.8
主分类号 :
G01H9/00
IPC分类号 :
G01H9/00  G01M7/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01H
机械振动或超声波、声波或次声波的测量
G01H9/00
应用对辐射敏感的装置,例如光学装置,测量机械振动或超声波、声波或次声波
法律状态
2022-04-22 :
授权
2020-07-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01H 9/00
申请日 : 20200311
2020-06-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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