光谱检测装置及其检测方法
授权
摘要
一种光谱检测装置及其检测方法，光谱检测装置包括光路产生组件以及光谱仪，光路产生组件产生用于对待检测样品检测的实时测量光路、用于实现波长校准的波长校准光路和/或用于实现背景光校准的背景光校准光路，光谱仪用于接收并检测来自光路产生组件的实时测量光路、波长校准光路和/或背景光校准光路。光谱检测装置的检测方法包括：波长校准步骤、暗电流校准步骤、背景光校准步骤以及实时测量步骤。这种光谱检测装置及其检测方法，可以修正背景干扰和/或波长漂移带来的影响，提高检测精度和可靠性。
基本信息
专利标题 ：
光谱检测装置及其检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111337131A
申请号 ：
CN202010217072.7
公开（公告）日 ：
2020-06-26
申请日 ：
2020-03-25
授权号 ：
CN111337131B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
郭萌刘超任贺良张艺宝张旭李喆
申请人 ：
天津国阳科技发展有限公司
申请人地址 ：
天津市华苑产业区兰苑路五号A座-715
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
张成新
优先权 ：
CN202010217072.7
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/42 G01N21/31
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-07-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/28
申请日 : 20200325
申请日 : 20200325
2020-06-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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