弱光光谱检测芯片
授权
摘要
本实用新型涉及光谱设备技术领域，尤其涉及一种弱光光谱检测芯片。该弱光光谱检测芯片包括光调制层和光电探测层，光调制层包括底板和至少一个调制单元，底板平置并连接于光电探测层上，每个调制单元内分别设有若干个穿于底板内的调制孔；光电探测层包括若干组探测单元，探测单元设置于调制单元的下方，每个探测单元内分别设有至少一个光电探测器，光电探测器用于在入射光射入调制单元形成调制光以后，对调制光进行弱光检测，通过对响应信号算法重构得到光谱。本实用新型的芯片将光谱仪缩小至芯片级别，并且不必依赖精密光学仪器，具有性能稳定、成本降低、便于操作和携带、以及可灵活移动的优点，还可以实现对弱光的光谱检测。
基本信息
专利标题 ：
弱光光谱检测芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021502633.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-27
授权号 ：
CN212363424U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
黄翊东崔开宇刘仿冯雪张巍
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区双清路30号清华大学100084
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
周琦
优先权 ：
CN202021502633.X
主分类号 ：
G01J3/02
IPC分类号 ：
G01J3/02 G01J3/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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