光脉冲信号处理系统
授权
摘要

本申请涉及一种光脉冲信号处理系统。通过待测信号光源产生待测信号光脉冲,传输至柱面透镜,通过柱面透镜将待测信号光脉冲转化为具有空间角度啁啾的待测信号光脉冲,输出具有空间角度啁啾的待测信号光脉冲以不同角度入射至长镜对,通过长镜对将不同入射角度入射的待测信号光脉冲,以镜间反射的方式对待测信号光脉冲进行延迟处理,输出相应重复频率的待测信号光脉冲簇至合束镜,通过合束镜将待测信号光脉冲簇与参考光脉冲簇进行合束,使得光信号分析装置对合束后的光脉冲簇进行分析。相较于传统的处理方法,本方案可以通过多个处理设备的共同作用,实现对光脉冲信号的处理,提高了光脉冲信号处理系统的测量能力。

基本信息
专利标题 :
光脉冲信号处理系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113514149A
申请号 :
CN202010274675.0
公开(公告)日 :
2021-10-19
申请日 :
2020-04-09
授权号 :
CN113514149B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
杨中民文晓晓韦小明
申请人 :
华南理工大学
申请人地址 :
广东省广州市天河区五山路
代理机构 :
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
冯右明
优先权 :
CN202010274675.0
主分类号 :
G01J1/42
IPC分类号 :
G01J1/42  G02B27/09  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2022-04-22 :
授权
2021-11-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/42
申请日 : 20200409
2021-10-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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