基于缝-孔平板准直器的多伽马光子符合成像系统及方法
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摘要
本发明公开了一种基于缝‑孔平板准直器的多伽马光子符合成像系统及方法,所述系统包括时间符合模块、计算机平台、至少一个由一个缝平板准直器和一个第一伽马光子探测器构成的第一探头,至少一个由一个孔平板准直器和一个第二伽马光子探测器构成的第二探头;该成像方法将放射性核素发生衰变的位置范围缩小为多伽马光子符合事件中第一探头探测到的伽马光子事件所确定的若干投影平面和第二探头探测到的伽马光子事件所确定的若干投影线的在成像范围内的若干交点,以此获得放射性核素在被测范围内分布。本发明提高了多伽马光子符合事件的探测效率,简化了重建算法,提高了重建图像的信噪比从而降低了对伽马光子总计数的需求。
基本信息
专利标题 :
基于缝-孔平板准直器的多伽马光子符合成像系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111596336A
申请号 :
CN202010277497.7
公开(公告)日 :
2020-08-28
申请日 :
2020-04-08
授权号 :
CN111596336B
授权日 :
2022-06-10
发明人 :
刘亚强马天予刘潇
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
北京市海淀区清华园1号
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
廖元秋
优先权 :
CN202010277497.7
主分类号 :
G01T1/167
IPC分类号 :
G01T1/167 G01T1/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量,例如,污染的测量
法律状态
2022-06-10 :
授权
2020-09-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/167
申请日 : 20200408
申请日 : 20200408
2020-08-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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