一种修复方法、装置及计算机存储介质
授权
摘要
本发明公开一种修复方法，应用于动态随机存取存储器，通过定制独立修复单元，以独立修复单元的容量进行修复的配置，将DRAM的修复从芯片级拆分成独立修复单元级。对独立修复单元逐一进行修复计算，不产生不可修复的独立修复单元的修复方案，并将不可修复的独立修复单元对应的地址设置为不可访问，对可以修复的独立修复单元进行修复。进而，可修复的独立修复单元可继续使用，降低了生产成本，达到了节约生产成本的目的。
基本信息
专利标题 ：
一种修复方法、装置及计算机存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111415700A
申请号 ：
CN202010334104.1
公开（公告）日 ：
2020-07-14
申请日 ：
2020-04-24
授权号 ：
CN111415700B
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
王帆黄华席隆宇
申请人 ：
西安紫光国芯半导体有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区丈八街办高新六路38号A座4楼
代理机构 ：
北京众达德权知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘杰
优先权 ：
CN202010334104.1
主分类号 ：
G11C29/44
IPC分类号 ：
G11C29/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
G11C29/44
错误指示或识别，例如，修复
法律状态
2022-05-06 ：
授权
2020-08-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/44
申请日 : 20200424
申请日 : 20200424
2020-07-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
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