快速磁共振多参数成像方法和装置
授权
摘要
本申请适用于磁共振技术领域，提供了快速磁共振多参数成像方法和装置，该快速磁共振多参数成像方法包括：通过脉冲序列采集N组数据，并基于所述N组数据重建得到N幅图像；其中，N为大于等于1的整数；将所述脉冲序列的参数、自旋‑晶格弛豫时间常数T1和自旋‑自旋弛豫时间常数T2，通过分数阶布洛赫模型生成字典；将所述N幅图像上对应像素的信号序列与所述字典中的条目进行匹配，根据匹配度确定最终的R个组织特性参数图作为指纹成像的输出。本申请能够提高磁共振指纹定量成像的准确度。
基本信息
专利标题 ：
快速磁共振多参数成像方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111537931A
申请号 ：
CN202010348375.2
公开（公告）日 ：
2020-08-14
申请日 ：
2020-04-28
授权号 ：
CN111537931B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
王海峰邹莉娴梁栋刘新郑海荣
申请人 ：
深圳先进技术研究院
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号
代理机构 ：
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
张杨梅
优先权 ：
CN202010348375.2
主分类号 ：
G01R33/50
IPC分类号 ：
G01R33/50 G01R33/48 G01R33/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/44
采用核磁共振
G01R33/48
核磁共振图像系统
G01R33/50
基于张弛时间的确定
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-09-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/50
申请日 : 20200428
申请日 : 20200428
2020-08-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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