一种用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法
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摘要
本发明公开了一种用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法，具体为：根据要进行CT尺寸测量的待测样品的材质和结构来确定用于尺寸测量精度评价的标准样品；在确定的CT测试条件下，用CT设备对标准样品连续进行两次扫描，获得相同测试条件下的两套三维CT图像数据；对获得的两套三维CT图像数据进行DVC计算，获得三维全场变形数据，变形数据中三个方向的应变，记为ex，ey，ez；对获得的全场变形数据进行统计分析，得到各个应变的均值和标准差，CT尺寸测量的精度与标准差呈负相关，即标准差越小，测量精度越高；标准差越大，测量精度越低。本发明方法能够量化各个影响因素对CT尺寸测量造成的影响。
基本信息
专利标题 ：
一种用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111780695A
申请号 ：
CN202010639368.8
公开（公告）日 ：
2020-10-16
申请日 ：
2020-07-06
授权号 ：
CN111780695B
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
万克树齐龙强
申请人 ：
东南大学
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区东南大学路2号
代理机构 ：
南京苏高专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
李倩
优先权 ：
CN202010639368.8
主分类号 ：
G01B15/00
IPC分类号 ：
G01B15/00 G01B15/06 G06T17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
法律状态
2022-04-12 ：
授权
2020-11-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 15/00
申请日 : 20200706
申请日 : 20200706
2020-10-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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