高精度尺寸自动化测量装置

授权

摘要

本实用新型属于光学检测领域，尤其涉及多个磁铁（充磁）组合后的高精度尺寸自动化测量装置，包括机架以及设置在机架上的测量平台、位移模组以及控制模组，使用时将待测样品放置在测量平台中，控制模组控制位移模组带动测量模组进行Z轴方向位移，测量模组在Z轴方向位移过程中完成对测量平台中待测样品的尺寸测量，测量过程不必与待测样品接触，不会对待测样品表面造成划损，能够有效提高等待测样品的品质及使用性能，本实用新型可以实时得到精确的测量结果，自动化程度高，省时省力，人工成本低，节省大量人力物力，测量效率高，能够有效避免传统方式因人工测量导致的测量结果数据一致性差的缺陷，测量精度高，应用前景广阔。

基本信息

专利标题：

高精度尺寸自动化测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920861737.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-10

授权号：

CN210346595U

授权日：

2020-04-17

发明人：

谢水龙谭海斌韦仁胜

申请人：

深圳精创视觉科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙华区龙华街道和平东路港之龙科技园科技孵化中心6楼E、I区

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201920861737.0

主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

G01B11/00