一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置
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摘要

本实用新型属于测试技术领域,公开了一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,包括平台、杆体、滑块、锁紧装置、连接支杆和测量仪表,平台是一个上表面为平面的大型平台,能够放置待测平板,平台一端竖立设置杆体;滑块可上下移动地设在杆体上,并通过锁紧装置锁定其在杆体上的位置;滑块与连接支杆的一端连接,连接支杆另一端连接测量仪表,测量仪表的测针向下垂直于平台的上表面。本实用新型的装置实现了大尺寸平板厚度的整体全面测量,为复合材料生产提高了数据积累,保证了产品质量;连接支杆的尺寸可调,横度可调,待测平板的位置可调,多种测量手段更加方便可靠。

基本信息
专利标题 :
一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021492131.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-24
授权号 :
CN213021349U
授权日 :
2021-04-20
发明人 :
张庆治徐振业
申请人 :
中国航空工业集团公司济南特种结构研究所
申请人地址 :
山东省济南市济齐路19号
代理机构 :
中国航空专利中心
代理人 :
杜永保
优先权 :
CN202021492131.3
主分类号 :
G01B5/06
IPC分类号 :
G01B5/06  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2021-04-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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