平板玻璃在线扫描厚度测量装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种平板玻璃在线扫描厚度测量装置，利用γ射线的反散射射线强度和散射体的厚度有一定的定量关系对被测体进行厚度测量。本装置的同位素源和检测器位于被测体的同侧，并在微机的控制下在大跨度的扫描架上对玻璃厚度进行多点自动扫描测量。本装置的测厚范围为1～20mm，并可显示和打印记录多种测量参数，测量灵敏度为0.01mm。本装置具有抗干扰能力强、使用稳定可靠及操作简便等优点。
基本信息
专利标题 ：
平板玻璃在线扫描厚度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN90221818.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1990-10-13
授权号 ：
CN2105668U
授权日 ：
1992-05-27
发明人 ：
彭嗣明李显佑周泽善于海杨京亭
申请人 ：
中国建筑材料科学研究院
申请人地址 ：
100024北京市朝阳区管庄
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN90221818.2
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
1994-11-30 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-05-12 ：
授权
1992-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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