本申请实施例提供了一种测量装置及厚度测量系统，属于测量技术领域。测量装置用于测量待测件的厚度，测量装置包括测量架、砧座组件和测量组件；砧座组件包括砧座上的测针，砧座组件沿第一方向可移动地设于测量架上，以使砧座能靠近或远离测量架；测量组件包括测量件的测头，测量组件沿第一方向可移动地设于测量架上，以使测量件能靠近或远离测量架；其中，测量组件与砧座组件在第二方向间隔分布，第二方向垂直于第一方向，第二方向与待测件的厚度方向同向，以使测头与砧座能分别与待测件的厚度方向两侧分别接触，以对待测件进行厚度测量。这种测量装置可以改善现有测量件测厚范围受限的问题。