试件尺寸激光测量装置

授权

摘要

本实用新型涉及测量技术领域，公开一种试件尺寸激光测量装置，包括具有相互垂直的底板和侧板的L型框架，侧板内表面上垂直伸出有与底板平行的水平杆和刻度杆，水平杆和刻度杆之间具有间距且等高设置，水平杆上装有可沿水平杆滑移的激光光源，底板在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架，底板上设有路径供试件支撑架作与水平杆方向平行的移动；刻度杆包括带孔主刻度杆和无孔副刻度杆，无孔副刻度杆紧贴在带孔主刻度杆上，带孔主刻度杆上的孔供激光通过，刻度杆背面布置有供激光光源照射的光幕，光幕与刻度杆之间具有间距且光幕分别与底板、侧板垂直。通过读取光幕上的激光光源点或副刻度杆上的刻度值即可精确得到试件尺寸。

基本信息

专利标题：

试件尺寸激光测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020173404.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-02-17

授权号：

CN211291346U

授权日：

2020-08-18

发明人：

潘堃叶洲元刘文汇刘续斌

申请人：

湖南科技大学

申请人地址：

湖南省湘潭市雨湖区石马头

代理机构：

广州粤高专利商标代理有限公司

代理人：

杨千寻

优先权：

CN202020173404.1

主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

G01B11/00