光电尺寸测量装置
专利权的终止
摘要
光电尺寸测量装置，一种用于测量物体尺寸的装置，为了克服已有技术中其它同类装置价格昂贵，常受测量现场干扰，并易遭损害等缺点而作出本发明，该测量装置由一个测量头和一个运算装置组成，测量头内有至少二片硅光电池作为工作片和补偿片，运算装置内有一个能完成工作片短路电流除于补偿片短路电流运算的除法电路，由于硅光电池信号强，不怕强光，价格便宜，因此本发明有结构简单，性能稳定、价廉而且在测量现场使用方便等优点。
基本信息
专利标题 ：
光电尺寸测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN85201059.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85201059U
授权日 ：
1986-02-05
发明人 ：
张承辉
申请人 ：
昆明钢铁公司钢铁研究所
申请人地址 ：
云南省安宁县
代理机构 ：
云南省专利事务所
代理人 ：
范严生
优先权 ：
CN85201059.1
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
1989-12-13 ：
专利权的终止
1986-08-20 ：
授权
1986-02-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN85201059U.PDF
PDF下载
