一种基于示踪技术的探查陷落柱发育程度的检测方法
授权
摘要
本发明涉及一种基于示踪技术的探查陷落柱发育程度的检测方法，属于地质构造特殊开采工程技术领域，本发明的检测方法，首先根据陷落柱的大体位置设计示踪剂投放孔和示踪剂观察孔，通过示踪剂投放孔注入示踪剂混合溶液，经过渗透作用，从观察孔取样检测示踪剂浓度变化情况，绘制示踪剂曲线，分析计算陷落柱渗透率，根据陷落柱渗透性判断陷落柱结构稳定性及后续的陷落柱处理办法，本发明通过示踪技术计算陷落柱的渗透率，可以实地测算出陷落柱构造内部的发育情况及稳定情况，进而判断陷落柱需不需要进行进一步的处理，这种检测方法施工简单、高效，不影响正常生产掘进，实用性较强。
基本信息
专利标题 ：
一种基于示踪技术的探查陷落柱发育程度的检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111929746A
申请号 ：
CN202010739299.8
公开（公告）日 ：
2020-11-13
申请日 ：
2020-07-28
授权号 ：
CN111929746B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
刘伟韬杜衍辉孟祥喜秦月云宋增谋任柏惠孙茜
申请人 ：
山东科技大学
申请人地址 ：
山东省青岛市经济技术开发区前湾港路579号
代理机构 ：
济南金迪知识产权代理有限公司
代理人 ：
段毅凡
优先权 ：
CN202010739299.8
主分类号 ：
G01V15/00
IPC分类号 ：
G01V15/00 E21F17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V15/00
为了能够探测目标物而与目标物相连接或相结合的示踪物
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2020-12-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01V 15/00
申请日 : 20200728
申请日 : 20200728
2020-11-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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