基于方位变标和频谱分析成像的SAR图像定位方法
授权
摘要
本发明公开了一种基于方位变标和频谱分析成像的SAR图像定位方法，首先，各burst数据或条带子带数据在完成距离脉压和距离徙动校正后，选择合适的参考斜距进行双曲到二次方位变标，通过SPECAN完成方位聚焦；其次，修正SAR图像距离门斜距和多普勒频率参数，确定RD定位模型参数；接着，SAR图像4个顶点RD定位，确定场景覆盖范围并完成网格划分；然后，各网格点逆RD定位，确定网格点在SAR图像中的方位位置和距离位置；最后，SAR图像重采样，完成图像定位。本发明中定位方法稳健、精度高，已经有效应用于星载SAR扫描模式burst图像定位处理。
基本信息
专利标题 ：
基于方位变标和频谱分析成像的SAR图像定位方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111983610A
申请号 ：
CN202010754132.9
公开（公告）日 ：
2020-11-24
申请日 ：
2020-07-30
授权号 ：
CN111983610B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
杨娟娟邢妍施浩强高阳党红杏
申请人 ：
西安空间无线电技术研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市长安区西街150号
代理机构 ：
中国航天科技专利中心
代理人 ：
胡健男
优先权 ：
CN202010754132.9
主分类号 ：
G01S13/90
IPC分类号 ：
G01S13/90
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S13/00
使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统
G01S13/89
用于绘地图或成像
G01S13/90
使用合成孔径技术
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2020-12-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 13/90
申请日 : 20200730
申请日 : 20200730
2020-11-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
