一种测量轴孔规格的装置
授权
摘要
本发明所提供的一种测量轴孔规格的装置，其中，包括：多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头；多个反光镜，多个所述反光镜分别设于每个光谱共焦传感器探头的底端，所述反光镜的镜面与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈预设角度，所述预设角度为所述镜面与所有反光镜围成的中轴之间的夹角。本发明所述装置基于光谱共焦原理即可实现对不同规格轴孔的内径或外径的测量，且测量精度高，操作简便。
基本信息
专利标题 ：
一种测量轴孔规格的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111879247A
申请号 ：
CN202010767207.7
公开（公告）日 ：
2020-11-03
申请日 ：
2020-08-03
授权号 ：
CN111879247B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
周飞王国安吴伟锋罗伟峰
申请人 ：
海伯森技术（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道南昌社区航城大道华丰国际机器人产业园E栋一层
代理机构 ：
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
朱阳波
优先权 ：
CN202010767207.7
主分类号 ：
G01B11/08
IPC分类号 ：
G01B11/08 G01B11/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2020-11-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/08
申请日 : 20200803
申请日 : 20200803
2020-11-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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