ADC频谱测试中非相干采样信号恢复方法

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摘要

本发明公开了一种ADC频谱测试中非相干采样信号恢复方法，首先对被测ADC输出信号进行离散傅里叶变换得到其频域信号，然后利用频域信息对被测ADC的采样周期的整数部分和小数部分进行估计，然后估计得到系数a,b的估计值基于系数的估计结果计算得到幅度估计值和初始相位估计值，利用幅度估计值、初始相位估计值及采样周期进行非相干采样基波信号重构，利用幅度估计值、初始相位估计值、及采样周期的整数部分进行相干采样基波信号重构，将被测ADC输出信号中非相干基波信号替换成相干基波信号，即可对非相干采样信号恢复得到相干采样信号。本发明可以被测ADC在非相干采样下得到的采样信号进行恢复，使得在非相干采样下也可以对ADC进行精确的频谱测试。

基本信息

专利标题：

ADC频谱测试中非相干采样信号恢复方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111970003A

申请号：

CN202010786425.5

公开（公告）日：

2020-11-20

申请日：

2020-08-07

授权号：

CN111970003B

授权日：

2022-04-19

发明人：

马敏曾钰琴

申请人：

电子科技大学

申请人地址：

四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

代理机构：

成都行之专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

温利平

优先权：

CN202010786425.5

主分类号：

H03M1/12

IPC分类号：

H03M1/12