ADC参数测试中超量程输入与非相干采样下的信号恢复方法

授权

摘要

本发明公开了一种ADC参数测试中超量程输入与非相干采样下的信号恢复方法，首先利用被测ADC输出信号的频域信息对被测ADC的测量周期、幅度、初始相位和直流分量进行估计，然后对削顶输出信号进行第一次重构并进行削顶处理得到重构的削顶输出信号，在被测ADC输出信号中减去第一次重构的削顶输出信号，基于剩余信号对幅度误差进行估计，然后对削顶输出信号进行第二次重构并进行削顶处理得到第二次重构的削顶输出信号，在被测ADC输出信号中第二次重构的削顶输出信号替换为未削顶相关采样输出信号，即可对非相干采样信号恢复得到相干采样信号。采用本发明对被测ADC在超量程输入与非相干采样条件下得到的采样信号进行恢复得到相干采样信号，实现ADC的精确测试。

基本信息

专利标题：

ADC参数测试中超量程输入与非相干采样下的信号恢复方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113114245A

申请号：

CN202110362036.4

公开（公告）日：

2021-07-13

申请日：

2021-04-02

授权号：

CN113114245B

授权日：

2022-04-19

发明人：

马敏曾钰琴

申请人：

电子科技大学

申请人地址：

四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

代理机构：

成都行之专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

温利平

优先权：

CN202110362036.4

主分类号：

H03M1/10

IPC分类号：

H03M1/10