离散量子密钥分发中针对器件缺陷的攻击检测方法
授权
摘要
本发明公开了一种离散量子密钥分发中针对器件缺陷的攻击检测方法，包括搭建以InGaAs‑based SPAD为单光子探测器件的离散量子密钥分发系统；进行正常和攻击情况的量子密钥分发并获取正、负样本数据；制作训练数据集并训练得到攻击检测分类器；采用攻击检测分类器监测正常通信的离散量子密钥分发并完成针对器件缺陷的攻击检测。本发明采用小波变换处理数据集，放大数据集隐藏细节；采用LSTM结合Batch Normalization层、池化层，全连接层以及softmax层的网络结构保证了攻击检测的效果；因此本发明能够有效监测针对InGaAs‑based SPAD器件缺陷的攻击，而且可靠性高、准确性好。
基本信息
专利标题 ：
离散量子密钥分发中针对器件缺陷的攻击检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111988130A
申请号 ：
CN202010831680.7
公开（公告）日 ：
2020-11-24
申请日 ：
2020-08-18
授权号 ：
CN111988130B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
黄端吴梓杰王一军
申请人 ：
中南大学
申请人地址 ：
湖南省长沙市岳麓区麓山南路932号
代理机构 ：
长沙永星专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
周咏
优先权 ：
CN202010831680.7
主分类号 ：
H04L9/00
IPC分类号 ：
H04L9/00 H04L9/08 G06K9/62 G06N3/04 G06N3/08
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2020-12-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04L 9/00
申请日 : 20200818
申请日 : 20200818
2020-11-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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