一种LED芯片质量的评价方法
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摘要
本发明涉及一种LED芯片质量的评价方法，该评价方法通过测试待评价芯片在不同温度、不同驱动电流下的光参数来拟合出第一趋势线以及第二趋势线，通过第二趋势线的拟合公式即可判断出不同芯片的相对质量，极大程度的降低了测试周期。
基本信息
专利标题 ：
一种LED芯片质量的评价方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112114271A
申请号 ：
CN202010854374.5
公开（公告）日 ：
2020-12-22
申请日 ：
2020-08-24
授权号 ：
CN112114271B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
高春瑞郑剑飞官小飞郑文财冯永航
申请人 ：
厦门多彩光电子科技有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市火炬高新区（翔安）产业区翔安西路8021号
代理机构 ：
厦门市精诚新创知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄斌
优先权 ：
CN202010854374.5
主分类号 ：
G01R31/44
IPC分类号 ：
G01R31/44 G01M11/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/44
•测试灯
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2021-01-08 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/44
申请日 : 20200824
申请日 : 20200824
2020-12-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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