一种有机质孔隙形成与演化原位观测方法和应用
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种有机质孔隙形成与演化原位观测方法和应用。所述有机质孔隙形成与演化原位观测方法包括以下步骤:步骤A、将样品进行微观观察;步骤B、将样品置于显微镜外接冷热台中,设置第一程序升温条件及第一终止温度,并记录有机质演化过程;步骤C、将样品进行有机质演化特征观察;步骤D、重复步骤B和步骤C一次或多次,不同的是,设置第二程序升温条件及第二终止温度,直至有机质消失。该方法能够用于页岩有机质孔隙形成与演化原位观测,为不同类型有机质孔隙形成与演化研究提供更加直接的技术支持。
基本信息
专利标题 :
一种有机质孔隙形成与演化原位观测方法和应用
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114428092A
申请号 :
CN202011044880.4
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2020-09-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
潘安阳席斌斌卢龙飞申宝剑鲍芳
申请人 :
中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
申请人地址 :
北京市朝阳区朝阳门北大街22号
代理机构 :
北京聿宏知识产权代理有限公司
代理人 :
吴大建
优先权 :
CN202011044880.4
主分类号 :
G01N23/2202
IPC分类号 :
G01N23/2202 G01N23/2251
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2202
样品制备
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2202
申请日 : 20200928
申请日 : 20200928
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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