模块化测试装置及其应用的测试设备
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种模块化测试装置，包含承置单元、测试单元及压接单元，承置单元的载具承置可滑移的测试单元，测试单元的承板配置复数个测试器，测试器供承置及测试复数个电子元件，压接单元以可拆式框架装配于承置单元的载具，框架装配复数个压接器，复数个压接器对位于复数个测试器，以模块化测试装置利于修护更换，并于测试单元滑出载具时而供便利取放一批次复数个电子元件，以及于滑入载具时而供压接单元压接复数个电子元件执行测试作业，进而提高使用效能。
基本信息
专利标题 ：
模块化测试装置及其应用的测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325208A
申请号 ：
CN202011061617.6
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李子玮李思宏
申请人 ：
鸿劲精密股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台中市
代理机构 ：
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
李林
优先权 ：
CN202011061617.6
主分类号 ：
G01R31/01
IPC分类号 ：
G01R31/01 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试，例如在成批生产中的“过端—不过端”测试；当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/01
申请日 : 20200930
申请日 : 20200930
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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