本公开是关于一种自刷新周期测试方法和装置，涉及集成电路技术领域。该自刷新周期测试方法包括：执行预设次数的数据保持能力获取步骤，所述数据保持能力获取步骤包括确定预设刷新时间；发送自刷新进入指令，以控制所述存储器进入自刷新操作；在所述存储器执行所述预设刷新时间的自刷新后，发送自刷新退出指令，以控制所述存储器退出自刷新操作；检测所述存储器当前的所述数据保持能力；获取所述数据保持能力关于对应的所述预设刷新时间的函数的周期；通过所述函数的周期确定所述存储器的自刷新周期。本公开通过数据保持能力的不一致性，可准确测得自刷新周期，以便于进行自刷新功能验证以及不同的产品的分析。