变系数的强反射分离方法、装置、电子设备及介质
实质审查的生效
摘要

本申请公开了一种变系数的强反射分离方法、装置、电子设备及介质。该方法可以包括:确定面元大小,计算面元内的平均最优子波;分别指定上、下漂移时窗,沿层提取均方根振幅属性;针对均方根振幅属性进行归一化处理,计算每一个地震道的分离系数;根据原始地震信号、每一个地震道的分离系数与平均最优子波,计算分离后的地震数据。本发明根据强背景反射在局部小范围内的相对稳定特征和沿层均方根振幅在横向上的能量差异,在不同的地震道上采用不同的分离系数,有效检测隐藏在地震同相轴中的能量异常,达到突出隐蔽储层的目的,为优质储层评价和流体识别奠定了数据基础。

基本信息
专利标题 :
变系数的强反射分离方法、装置、电子设备及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114428306A
申请号 :
CN202011071415.X
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2020-10-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈科徐雷鸣王鹏燕邹森林张杨苏凌张代兰仇正兰
申请人 :
中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院
申请人地址 :
北京市朝阳区朝阳门北大街22号
代理机构 :
北京思创毕升专利事务所
代理人 :
孙向民
优先权 :
CN202011071415.X
主分类号 :
G01V1/30
IPC分类号 :
G01V1/30  G01V1/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V1/00
地震学;地震或声学的勘探或探测
G01V1/28
地震数据的处理,例如,分析、用于解释、用于校正
G01V1/30
分析
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01V 1/30
申请日 : 20201009
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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