受测装置模拟设备
公开
摘要
本申请涉及受测装置模拟设备。一种受测装置(DUT)模拟设备，包括：第一电路板，包括第一现场可编程门阵列(FPGA)；第二电路板，包括处理器；及电源分配板，其中，所述第一电路板连接于所述电源分配板，所述第一电路板的电源由所述电源分配板提供，其中，所述第二电路板连接于所述电源分配板，所述第二电路板的电源由所述电源分配板提供，其中，当所述受测装置模拟设备与测试器连接以进行测试时，所述受测装置模拟设备模拟受测装置在接收从所述测试器的测试信号后提供响应信号的表现，其中，所述受测装置模拟设备中仅所述第一电路板从所述测试器接收测试信号，所述第二电路板通过控制信号控制所述第一电路板。
基本信息
专利标题 ：
受测装置模拟设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325144A
申请号 ：
CN202011077492.6
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-10-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
聂旻侯毅贾思强徐扬唐军牟永鹏刘骏于波
申请人 ：
泰瑞达亚洲股份有限公司
申请人地址 ：
新加坡，新加坡市
代理机构 ：
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
穆森
优先权 ：
CN202011077492.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G05B19/042
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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