一种表面放射性测量谱仪以及提高测量精度的方法
公开
摘要
本发明提供了一种表面放射性测量谱仪,包括容器、匀强电场生成部件、电荷读出平面、工作气体以及配套信号处理系统。本发明的待测样品直接放置于密闭的测量容器内部进行测量,样品表面放出的放射性粒子直接与工作气体互相作用,有效避免可能的探测器死层带来的效率损失。本发明还提供了一种利用谱仪探测器记录放射性粒子的径迹,并通过计算机算法进行三维径迹重构的方法。不仅能够通过能量沉积特性判断粒子的类型,还能够通过三维径迹判断粒子的初始位置,以此排除本底数据,提高测量精确度。本发明采用像素读出平面,不受半导体制作工艺的限制,可以提供较大的探测面积。
基本信息
专利标题 :
一种表面放射性测量谱仪以及提高测量精度的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384577A
申请号 :
CN202011107471.4
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2020-10-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
韩柯杜海燕
申请人 :
上海交通大学
申请人地址 :
上海市闵行区东川路800号
代理机构 :
上海旭诚知识产权代理有限公司
代理人 :
郑立
优先权 :
CN202011107471.4
主分类号 :
G01T1/36
IPC分类号 :
G01T1/36 G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/36
测量X射线或核辐射的能谱分布
法律状态
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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