二维耦合光栅结构及其串扰测试结构
公开
摘要
本发明公开了一种二维耦合光栅结构及其串扰测试结构，该二维耦合光栅结构包括：主体和光栅阵列，主体包括相互垂直的第一入射面和第二入射面；光栅阵列设置于主体中，光栅阵列中的光栅分别沿第一方向和第二方向分布，第一方向垂直于第一入射面的方向，第二方向为垂直于第二入射面的方向，光栅阵列中沿第一方向的光栅周期和沿第二方向的光栅周期互不相同；光栅阵列用于使第一光信号和第二光信号正交偏振耦合后输出，第一光信号为从第一入射面输入的光信号，第二光信号为从第二入射面输入的光信号。由于光栅周期不同，偏振后的第一光信号和第二光信号的中心波长互不相同，使得耦合后的输出光信号的总光谱响应更宽，减少光栅带宽对光信号衰减的影响。
基本信息
专利标题 ：
二维耦合光栅结构及其串扰测试结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114384617A
申请号 ：
CN202011111129.1
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2020-10-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨旻岳
申请人 ：
中兴光电子技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市雨花台区凤展路30号2幢23层
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
梁嘉琦
优先权 ：
CN202011111129.1
主分类号 ：
G02B5/18
IPC分类号 ：
G02B5/18 G01M11/02 H04B10/079
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B5/00
除透镜外的光学元件
G02B5/18
衍射光栅
法律状态
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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