本揭示文件有关一种效能计算系统、效能计算方法与电子装置。一种效能计算方法，适用于晶片，晶片包含多个振荡器电路系统，多个振荡器电路系统用于产生多个振荡信号，且用于感测晶片的工作状态以改变多个振荡信号的周期。计算方法包含以下流程：当晶片处于第一工作状态时，依据多个振荡信号的周期，且依据晶片的第一效能值或第一效能值的近似值建构第一函数；当晶片处于第二工作状态时，依据多个振荡信号的周期，且依据晶片的第二效能值或第二效能值的近似值建构第二函数；依据第一与第二函数的图形的走势，调整第一或第二函数的系数，使第一与第二函数的图形相交于一座标点；依据第一与第二函数建构晶片的效能函数。上述的计算方法能精确估计晶片的效能。