用于电路设计的确定测试覆盖率的方法及信息处理系统
公开
摘要
可通过获得电路设计中多个节点中的每个节点的节点可测试性数据和物理位置数据来确定所述电路设计的测试覆盖率。基于所述多个节点中的每个节点的所述节点可测试性数据和所述物理位置数据，确定所述电路设计内的一个或多个低测试覆盖率区域包括未测试节点。生成所述电路设计的测试覆盖率数据，所述测试覆盖率数据包括所述一个或多个低测试覆盖率区域的至少一个标识。
基本信息
专利标题 ：
用于电路设计的确定测试覆盖率的方法及信息处理系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114492294A
申请号 ：
CN202011165581.6
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-10-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
阿努拉格·金达尔卡皮尔·纳鲁拉拉胡尔·卡利扬梁洪崑
申请人 ：
恩智浦美国有限公司
申请人地址 ：
美国德克萨斯州
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
孙尚白
优先权 ：
CN202011165581.6
主分类号 ：
G06F30/398
IPC分类号 ：
G06F30/398 G06F30/392 G06F30/394 G06F30/396
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/398
设计验证或优化，例如：使用设计规则检查、布局与原理图或有限元方法
法律状态
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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