一种端口复用测试电路设计方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种端口复用测试电路设计方法，属于半导体集成电路领域。在没有出现有效的测试信号出现时，系统保持在初始状态，电路正常工态。当出现有效的测试信号，通过配置测试状态选择芯片内部需测试的信号，可在芯片引脚测得该信号。本发明可将内部多个信号传输到引脚端口进行测试，可降低测试难度、增加测试参数全面性且不会过多占用顶层面积；同时该方法采用端口复用的方式不需增加额外的测试引脚。
基本信息
专利标题 ：
一种端口复用测试电路设计方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114371385A
申请号 ：
CN202111592713.8
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2021-12-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
廖丽刘芸含
申请人 ：
中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请人地址 ：
江苏省无锡市滨湖区惠河路5号
代理机构 ：
无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨强
优先权 ：
CN202111592713.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211223
申请日 : 20211223
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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