电流积分误差分析方法、装置、存储介质和电子设备
公开
摘要
本公开涉及一种电流积分误差分析方法、装置、存储介质和电子设备,涉及电子技术领域,能够在连续的状态中定位误差形成的状况,有利于误差改善分析率。一种电流积分误差分析方法,包括:以第一采样速率对电流曲线进行采样,得到电流采样点,第一采样速率大于电流曲线的电流变化速率;将电流采样点划分为若干组,每组包括N个连续的电流采样点,基于每组N个连续的电流采样点中两两连续的电流采样点的电流差值,确定该组N个连续的电流采样点所对应的电流曲线的曲线类型;计算每组N个连续的电流采样点中的第一电流采样点和第N电流采样点相连所形成的直线的斜率;基于所确定的曲线类型和所计算的斜率,对电流积分误差进行分析。
基本信息
专利标题 :
电流积分误差分析方法、装置、存储介质和电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114429027A
申请号 :
CN202011183031.7
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2020-10-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周博李奇峰
申请人 :
比亚迪半导体股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市大鹏新区葵涌街道延安路1号
代理机构 :
深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张美君
优先权 :
CN202011183031.7
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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